シミュレーターテスト

Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd (SChitec) は、電話アクセサリーの製造と販売を専門とするハイテク企業です。 当社の主な製品には、旅行用充電器、車用充電器、USB ケーブル、パワーバンク、その他のデジタル製品が含まれます。すべての製品は安全で信頼性が高く、ユニークなスタイルを備えています。製品は CE、FCC、ROHS、UL、PSE、C-Tick などの証明書に合格しています。ご興味がございましたら、ceo@schitec.com に直接お問い合わせください。

SChitec で安全に充電を続ける

シミュレーターテスト

オペアンプを使ってテストしてみます。 a点から見た「Virtual Earth」のコンセプトは以下の通りです。

ix=Iref

∴Rx {{0}} 対 V0*Rref

Vs と rref はそれぞれ励起信号源と機器の計算抵抗です。 V0 が測定されれば、RX を計算できます。

測定対象の Rx がキャパシタンスとインダクタンスの場合、vs AC 信号源、Rx はインピーダンス形式となり、C または l も計算できます。

1.2 ガード

上記のテスト方法は独立したデバイスを対象としていますが、実際の回路ではデバイスが接続されて相互作用するため、テスト中は IX 基準を絶縁する必要があります。 分離はオンライン テストの基本技術です。

上の回路では、R1 と R2 の接続シャントのため、IX ⬽ ref、RX=対 / V0 * rref の式は無効です。 テストでは、G と F が同じ電位にある限り、R2 を流れる電流はなく、IX=Iref の式が依然として存在し、RX は変化しません。 G点を接地するとf点が仮想的に接地され2点の電位が等しくなるため絶縁が実現します。 実際には、G と F は絶縁されたオペアンプを介して等電位になります。 ICTテスタは、周辺回路のテストへの影響を排除するために、多数の絶縁ポイントを設けることができます。

1.2 ICテスト

デジタルICの場合はベクトルテストを使用してください。 ベクトルテストは真理値表の測定に似ており、入力ベクトルを励起し、出力ベクトルを測定し、実際の論理関数テストを通じてデバイスの品質を判断します。

例：NANDゲートのテスト

アナログ IC のテストでは、IC の実際の機能励起電圧と電流に応じて、対応する出力を測定できます。これを機能ブロックテストとみなします。

非ベクトルテスト

最新の製造技術の発展と VLSI の使用により、80386 テスト プログラムなどのデバイスのベクトル テスト プログラムを作成するのに多くの時間がかかり、熟練したプログラマであれば半年近くかかります。 SMT デバイスの広範な適用に伴い、デバイス ピンの断線という障害現象がより顕著になります。 このため、Teradyne は、Multiscan によって導入された Xpress の非ベクトル テスト テクノロジを導入しました。 ジェンラッド。

2.1 デルタスキャンアナログジャンクションテスト技術

デルタスキャンは、デジタル デバイスのほぼすべてのピンおよびミックスド シグナル デバイスのほとんどのピンにある ESD 保護または寄生ダイオードを使用して、テスト対象デバイスの独立したピン ペアの DC 電流をテストします。 ボードの電源が遮断されたとき、デバイス上の任意の 2 つのピンの等価回路は次の図に示されます。

1. ピン a のグランドに負の電圧を加えると、電流 ia がピン a の順バイアス ダイオードを流れます。 ピン a に流れる電流 ia を測定します。

2 ピン a の電圧を維持し、より高い負の電圧をピン B に加え、電流 IB がピン B の順バイアス ダイオードを流れます。電流 IA は、ピン a とピンからの共通基板抵抗内での電流共有により減少します。ピンBをグランドに接続します。

3 ピン a を流れる電流 ia を再度測定します。 ピン B に電圧を印加しても ia が変化しない場合 (デルタ)、接続に問題があると考えられます。

デルタスキャン ソフトウェアは、正確な障害診断を行うために、デバイス上の考えられる多数のピン ペアから得られたテスト結果を合成します。 信号ピン、電源および接地ピン、および基板はすべてデルタスキャン テストに参加します。つまり、デルタスキャンでは、ピンの切断に加えて、デバイスの欠落、逆挿入、ワイヤの切断などの製造上の欠陥も検出できます。

GenRad タイプのテストは、junction Xpress と呼ばれます。 IC内部のダイオード特性も利用しますが、テストはダイオードのスペクトラム特性(第2高調波)を測定することで実現します。

デルタスキャン技術は、追加の治具ハードウェアを必要としない初の技術です。

2.2 フレームスキャンの容量結合試験

Framescan は容量結合を使用してピンの断線を検出します。 各デバイスには容量性プローブが付いています。 ピンが信号を励起すると、容量性プローブが信号を検出します。 図に示すように:

1. フィクスチャ上のマルチチャンネル スイッチ ボードは、デバイス上の容量性プローブを選択します。

2 テスターのアナログ テスト ボード (ATB) は、AC 信号を各ピンに順番に送信します。

3. 容量性プローブは、テスト対象のピン上の AC 信号を収集してバッファします。

4 ATB は、容量性プローブによって検出された AC 信号を測定します。 ピンが回路基板に正しく接続されていれば、信号が測定されます。 ピンが切断されている場合、信号は存在しません。

GenRad のようなテクノロジーは、open Xpress と呼ばれます。 原理も同様です。

この技術的な治具にはセンサーやその他のハードウェアが必要であり、テストコストは若干高くなります。